金包銀用光譜儀能檢測出嗎？

之恒儀器

金包銀能否用光譜儀檢測?分步驟解析：
??1. 檢測原理與儀器選擇??
金包銀(銀基底表面鍍金)的檢測依賴于??元素分析??，常用設備為 ??X射線熒光光譜儀(XRF)?? 或 ??激光誘導擊穿光譜儀(LIBS)??：
??XRF??：通過X射線激發樣品表面原子，檢測其釋放的特征熒光光譜，非破壞性，適合表層元素分析。
??LIBS??：利用激光燒蝕樣品表面，分析等離子體發射光譜，可探測深層成分，但可能造成微小損傷。

??2. 鍍層厚度的影響??
??若鍍金層較薄(<1μm)??：X射線可能穿透鍍層，同時檢測到 ??Au(金)和Ag(銀)?? 的信號，直接判定為鍍層結構。
??若鍍金層較厚(>5μm)??：XRF僅檢測到表層 ??Au??，可能誤判為純金，需結合其他方法(如密度測量或截面顯微分析)。

??3. 實際檢測方案??
??快速篩查(XRF)??：
非破壞性，適用于珠寶、工藝品檢測。若顯示 ??Au為主+微量Ag??，可推測為金包銀;若僅顯示Au，需進一步驗證。
??深度分析(LIBS或SEM-EDS)??：
??LIBS??：逐層剝離鍍金，通過連續激光脈沖檢測Ag信號出現的位置，判斷鍍層厚度。
??SEM-EDS掃描電鏡??：切割樣品觀察橫截面，直接分析鍍層與基體的元素分布，結果精確但破壞樣品。

??4. 注意事項??
??鍍層均勻性??：局部鍍層過厚或孔隙可能導致誤差，需多點檢測。
??儀器校準??：使用標準樣品(如已知厚度的Au/Ag鍍層)校準儀器，提高準確性。
??輔助手段??：
??密度測試??：純金密度(19.3 g/cm3)顯著高于銀(10.5 g/cm3)，鍍金制品密度介于兩者之間。
??化學法??：硝酸點試(銀遇硝酸變黑，金不反應)，但會損傷表面。

??5. 結論??
??可檢測性??：光譜儀(XRF/LIBS)能有效識別金包銀結構，但需根據鍍層厚度選擇合適方法。
??推薦流程??：優先使用XRF初步篩查，若結果存疑則結合密度測量或LIBS深度分析，必要時采用SEM-EDS驗證。

繪心之境

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