金屬分析儀原理

景天儀器設備

金屬分析儀基于不同技術原理工作，常見類型及其原理如下：  
一、光譜分析類金屬分析儀  
1.光電直讀光譜儀  
原理：利用電弧或火花激發金屬樣品，原子被激發后返回基態時發射特征光譜。通過光柵分光系統將光譜分解為不同波長，探測器捕捉光譜強度，計算機根據標準曲線計算元素含量。  
特點：可同時分析多種元素，分析速度快（幾秒內出結果），適用于金屬冶煉、鑄造等行業的爐前快速分析。  
2.X射線熒光光譜儀（XRF）  
原理：X射線管發射高能X射線照射樣品，使樣品內層電子電離，外層電子躍遷填補空穴時發射特征X射線熒光。熒光強度與元素含量成正比，通過探測器測量熒光強度實現定量分析。  
特點：無損檢測，適用于合金、礦石、環境樣品等，可分析元素范圍廣（如Mg至U）。  
3.原子吸收光譜儀（AAS）  
原理：光源發射特定波長的光，通過原子化器將樣品中的元素轉化為基態原子蒸氣。基態原子吸收特定波長的光，吸收強度與元素濃度成正比，通過測量吸收強度實現定量分析。  
特點：靈敏度高，適用于痕量元素分析，但一次只能分析一種元素。  
二、質譜分析類金屬分析儀  
電感耦合等離子體質譜儀（ICP-MS）  
原理：樣品通過霧化器進入等離子體炬，被電離成離子。離子經質量分析器分離后，檢測器測量離子流強度。通過與標準物質比對，實現元素的定性和定量分析。  
特點：靈敏度極高（可檢測ppt級元素），可同時分析多種元素，適用于半導體、環境科學等領域的超痕量分析。  
三、其他類型金屬分析儀  
1.火花直讀光譜儀  
原理：通過高壓電火花激發樣品表面，原子被激發后發射特征光譜。光譜經光柵分光后，探測器測量各波長光強，計算機根據標樣數據計算元素含量。  
特點：適用于黑色金屬和有色金屬的快速分析，分析速度快，操作簡便。  
2.碳硫分析儀  
原理：樣品在高頻感應爐中燃燒，碳、硫元素轉化為CO?和SO?氣體。氣體通過紅外檢測池或熱導檢測器測量濃度，實現碳、硫元素的定量分析。  
特點：專用于碳、硫元素分析，廣泛應用于鋼鐵、有色金屬等行業。  
3.氧氮氫分析儀  
原理：樣品在惰性氣氛下加熱，氧、氮、氫元素以氣體形式釋放。通過紅外檢測池或熱導檢測器測量氣體濃度，實現元素的定量分析。  
特點：適用于金屬材料中氧、氮、氫元素的測定，對材料性能研究有重要意義。