x射線光譜儀的工作原理

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X射線光譜儀是一種基于X射線與物質相互作用原理的分析儀器，廣泛應用于材料科學、化學、地質學、生物**等領域，用于確定物質的組成、結構、元素含量等信息。以下是X射線光譜儀的工作原理的詳細描述：
工作原理
X射線熒光光譜儀（XRF）：利用高能X射線激發樣品中的原子，使其產生熒光X射線。通過測量這些熒光X射線的波長和強度，可以進行定性和定量分析。XRF主要分為波長色散型（WDXRF）和能量色散型（EDXRF）兩種類型
X射線晶體光譜儀：利用晶體對X射線的衍射作用，將不同波長的X射線分開，實現光譜的分離。這種儀器通常用于需要高靈敏度的分析。

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