白光干涉儀測量原理是什么

曉飛儀器

　　白光干涉儀的測量原理基于干涉現(xiàn)象，具體來說是利用不同波長的光在不同路徑上的相位差導致的干涉條紋變化。下面是白光干涉儀的基本工作原理：
　　光源：白光干涉儀使用的是白光源（即包含多個波長的光源），例如普通的白光燈或激光。白光源的特點是包含廣泛的光譜成分。
　　分束器和光路分離：白光通過分束器被分成兩束或更多束光。每一束光都會通過不同的光路，最終合并回同一點。這些光路徑的不同長度會導致兩束光之間產(chǎn)生相位差。
　　干涉現(xiàn)象：兩束分離的光在合并時，會根據(jù)它們的相位關系發(fā)生干涉。如果兩束光的相位差為整數(shù)倍的波長，它們會發(fā)生相長干涉（亮條紋）；如果相位差為半波長的奇數(shù)倍，它們會發(fā)生相消干涉（暗條紋）。
　　白光的特點：由于白光包含多個波長的光，因此在干涉時，不同波長的光會有不同的干涉效果。不同波長的光會在不同位置產(chǎn)生干涉條紋，這會導致干涉圖樣變得更加復雜。只有特定的波長在干涉過程中達到一致的相位關系。
　　干涉圖樣的分析：通過分析白光干涉圖樣中的條紋（亮暗變化），可以獲取干涉條紋的位置變化，從而推算出與光程差、表面形貌、厚度等物理量相關的信息。
　　分辨率與精度：白光干涉儀由于使用了多種波長的光，通常能夠提供非常高的分辨率，適用于高精度的測量。通過分析干涉條紋的細節(jié)變化，可以非常精確地測量微小的物理量，比如表面粗糙度、膜層厚度等。
　　總的來說，白光干涉儀的核心原理就是利用干涉現(xiàn)象，并通過分析干涉條紋的變化，提取出所需要的物理參數(shù)。

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