金相顯微鏡和sem區(qū)別

派迪儀器

金相顯微鏡和掃描電子顯微鏡（SEM）在光源、成像原理、分辨率和景深等方面存在顯著差異。

1. 光源不同：金相顯微鏡采用可見光作為光源，而SEM使用電子束作為光源。這導(dǎo)致兩者在成像機(jī)制上的根本區(qū)別。

2. 成像原理：金相顯微鏡利用幾何光學(xué)成像原理，通過反射光觀察金屬試樣表面的金相組織。SEM則利用高能量電子束轟擊樣品表面，激發(fā)出各種物理信號(hào)（如二次電子、背散射電子），再通過探測器接收這些信號(hào)轉(zhuǎn)換成圖像信息。

3. 分辨率：由于光的干涉與衍射作用，金相顯微鏡的分辨率限制在0.2-0.5微米之間，適用于微米級(jí)分析。而SEM的分辨率可達(dá)到1-3納米，適用于納米級(jí)分析，提供更高的細(xì)節(jié)觀察能力。

4. 景深：金相顯微鏡的景深通常在2-3微米之間，對(duì)樣品表面的光滑程度要求較高，制樣過程較為復(fù)雜。SEM則具有較大的景深，視野大，成像富有立體感，可以直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細(xì)微結(jié)構(gòu)，試樣制備相對(duì)簡單。

綜上所述，金相顯微鏡和SEM各有優(yōu)勢，適用于不同的應(yīng)用場景。金相顯微鏡操作簡便、成本較低，適合日常的金相分析；而SEM則提供更高的分辨率和景深，適用于更精細(xì)的微觀結(jié)構(gòu)研究。

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