加速器質譜儀原理

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加速器質譜儀（AcceleratorMassSpectrometry,AMS）是一種結合了加速器技術和質譜技術的先進分析工具，主要用于微量核素的高靈敏度測定。以下是其工作原理的詳細介紹：  
基本原理  
樣品準備：首先，將待分析的樣品轉化為適合加速器質譜儀分析的形式，通常是固體或氣體形式。例如，碳樣品通常被轉化為石墨或二氧化碳氣體。  
離子源：樣品被引入離子源，在這里被電離成帶電粒子（離子）。這些離子通常帶有負電荷，因為負離子在加速器中更容易被加速。  
加速器：離子被引入加速器，在高壓電場的作用下被加速到高能量。加速器通常是一個串列加速器，可以將離子加速到幾百萬電子伏特（MeV）的能量。  
電荷交換：在加速器的末端，離子通過一個氣體室（通常是氦氣或氫氣），在這里發生電荷交換。負離子被轉換為正離子，這有助于消除背景噪聲和提高測量靈敏度。  
質量分析：加速后的離子進入質譜儀部分，通過磁場和電場的作用，根據其質量和電荷比（荷質比）被分離。不同質量的離子在磁場中會沿著不同的路徑運動，最終被探測器檢測到。  
探測與計數：分離后的離子被探測器捕捉并計數。探測器通常是一個多通道板（MCP）或閃爍計數器，能夠精確地記錄離子的數量。

五十五

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