橢偏儀可以測什么

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新人求助！橢偏儀可以測什么？

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橢偏儀主要用于測量薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)以及材料微結(jié)構(gòu)等特性。這種儀器通過分析偏振光在材料表面反射后的變化，可以精確地獲得材料的多種物理和化學(xué)屬性，是一種非破壞性的測量方法。

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橢偏儀（Ellipsometer）是一種用于測量材料薄膜厚度和光學(xué)性質(zhì)的精密儀器。它通過分析光在薄膜表面的反射特性來獲得薄膜的厚度、折射率和吸收率等信息。橢偏儀廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、材料科學(xué)、光學(xué)涂層、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域，用于表征薄膜材料的物理和化學(xué)性質(zhì)。

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