Zeta電位粒度分析儀工作原理

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Zeta電位粒度分析儀是一種廣泛應用于物質表征的技術，它主要用于研究分散系統中的顆粒大小、形狀和表面電荷等重要參數。其工作原理主要涉及激光散射技術和電泳技術。  
一、激光散射技術  
激光散射技術是Zeta電位粒度分析儀用于測量顆粒大小和形狀的基本原理。當一束激光照射到物質的表面時，顆粒會散射激光。根據散射光的強度和角度，可以計算出顆粒的大小。具體來說，顆粒越大，散射光的角度越小；顆粒越小，散射光的角度越大。同時，通過測量散射光的強度分布，還可以得到顆粒的形狀信息。  
二、電泳技術  
電泳技術是Zeta電位粒度分析儀用于測量顆粒表面電荷（即Zeta電位）的基本原理。在電場作用下，帶電顆粒會產生電泳運動，向相反電荷的電極移動。通過測量顆粒在電場中的遷移速度，可以推算出顆粒的表面電荷性質。具體來說，電泳遷移率與顆粒的電泳速度和電場強度成正比，與顆粒的直徑和介質的粘度成反比。因此，通過測量電泳遷移率，可以間接得到顆粒的Zeta電位。  
在實際操作中，Zeta電位粒度分析儀通常會將待測顆粒樣品與適量的流體混合，然后將混合物注入分析儀的測量室內。測量室內設有激光器和光敏探測器，激光器發出的激光束穿過測量室。當顆粒通過激光束時，會散射出光信號，這些光信號被光敏探測器捕獲。通過分析捕獲的光信號，可以得到顆粒的大小和形狀信息。同時，通過測量顆粒在電場中的遷移速度，可以推算出顆粒的Zeta電位。  
綜上所述，Zeta電位粒度分析儀的工作原理是基于激光散射技術和電泳技術的綜合運用。通過這兩種技術的結合，可以實現對顆粒大小、形狀和表面電荷的全面測量和分析。這些信息對于理解分散系統中的顆粒行為、優化顆粒制備工藝以及開發新型材料等方面都具有重要意義。

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