渦流測厚儀的基本原理

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渦流測厚儀是一種便攜式儀器，主要用于檢測非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度1。其基本工作原理基于渦流效應。具體來說，儀器內部的高頻交流信號會在測頭線圈中產生電磁場。當測頭接近導體（如金屬基體）時，會在導體內形成渦流。測頭與導電基體的距離越近，產生的渦流越大，導致反射阻抗增加。這種變化反映了測頭與導電基體之間的距離，從而間接測量出非導電覆層的厚度14。與磁感應原理相比，渦流測厚儀使用高頻材料作為線圈鐵芯，且信號頻率、大小和標度關系有所不同1。該儀器具有高分辨率（可達0.1微米）、高精度（允許誤差1%）和寬量程（可達10毫米）的特點。

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