應力雙折射測量儀原理

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一、雙折射現象

當光線入射到各向異性的晶體或具有應力的透明材料時，會分解為兩束光而沿不同方向折射，這種現象稱為雙折射。雙折射現象在非均質體中傳播時，其傳播速度和折射率值隨振動方向不同而改變，導致折射率值不止一個。

二、應力對材料折射率的影響

應力會導致材料的晶格畸變，這種晶格畸變會影響材料內部的折射率。當材料受到應力作用時，其折射率會發生變化，從而形成雙折射現象。

三、應力雙折射測量儀的工作原理

應力雙折射測量儀利用偏振光電矢量合成及光學補償原理，通過對樣品的光程差的定量測定，確定樣品應力雙折射的大小。具體過程如下：

• 偏振光干涉：儀器將光線通過偏振片，使其成為線偏振光。然后，這束線偏振光穿過具有應力的樣品。
• 雙折射效應：當線偏振光穿過應力樣品時，由于應力導致的晶格畸變，線偏振光會分解為兩束折射光，即快軸和慢軸方向的光。這兩束光在通過樣品后會產生光程差。
• 橢圓偏振光：由于光程差的存在，出射光不再是線偏振光，而是變成了橢圓偏振光。
• 測量與分析：通過旋轉檢偏鏡，可以測量出橢圓偏振光的參數，如振幅或相位差。這些參數與樣品中的應力分布密切相關。利用專屬的演算和圖像處理軟件，可以將這些參數轉化為應力分布數據，從而實現對樣品內部應力的定量測量。
  

極光追夢

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