射頻導納物位計工作原理

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射頻導納物位計是一種基于射頻導納原理（RF Admittance）的物位檢測儀器，主要用于測量固體和液體物料的高度。它通過探測物料對電磁波的影響，來判斷物料的物位變化。該原理廣泛應用于化工、冶金、礦業、食品等行業，尤其適用于粉料、顆粒料以及液體等的料位測量。
射頻導納物位計非常適合用于粘性、泡沫或粉塵較多的環境。它具有高精度、穩定性強、非接觸式測量等優點。尤其在容器內的物料堆積不均勻或具有復雜流動性的情況下，射頻導納物位計能夠提供可靠的物位測量結果。
射頻導納物位計的核心原理是物料對射頻信號的導納（即電導和電抗的復合性）特性的影響。物位計通常由一根探頭、一個射頻信號源以及接收電路組成。
1.探頭和電場：射頻導納物位計的探頭通常由金屬電極構成，電極通過導線與射頻信號源連接。當探頭放置在料倉、容器或管道內時，探頭與容器壁之間會形成電場或電磁場。
2.物料影響：射頻信號通過探頭發射，并與物料發生相互作用。不同類型的物料具有不同的導電性，物料的高度變化會改變探頭與容器壁之間電場的導納值。物料的存在會影響射頻信號的傳播特性，尤其是物料的介電常數、電導率等參數。
3.信號檢測與處理：當物料的高度變化時，探頭接收到的導納信號會發生變化。信號處理系統根據導納的變化量計算出物位高度，從而輸出一個與物位對應的電信號。

牙壓啞呀

我也是這么想的，不謀而合。

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樹影婆娑

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