SEC的RAY相關技術處于行業前沿，本次在展會現場展示的X-eye SF160 F/N Series是SEC推出的新品，主要用于半導體，電子產品，封裝等產品精密分析用非破壞性檢測設備，最大可實現550 x 650mm尺寸的產品不良檢測。
該產品搭載高性能Micro-focus Open Tube (160kV)的高性能檢測設備，可實現高分辨率、高倍率下分析不良缺陷。用戶可根據需求選擇Dual CT功能(Oblique CT,Cone-beam CT)進行3D影像檢測，分析出不良的種類、位置及大小。此外，該產品可搭載Option自動檢測S/W，通過手動裝料后的自動檢測，可實現產品全檢；還可搭載長壽命Filament，適用于量產檢測。
不斷挑戰 不斷突破
SEC意為“Superior Service & Exciting Challenge”，公司在各個方面為用戶提供高質量的服務，并為滿足用戶的需求而不斷進行改進和挑戰。隨著科技的不斷進步和市場的日益擴大，高精密電子工業檢測設備的需求也在不斷增加。SEC將繼續發揮其在研發和生產方面的優勢，為全球用戶帶來更多驚喜和突破。
