外觀檢查：在儀器校準(zhǔn)前，應(yīng)檢查儀器的外觀，確保沒(méi)有影響儀器校準(zhǔn)操作的缺陷。
光源光譜半寬：使用光譜分布測(cè)量設(shè)備測(cè)量偏光儀的光源光譜分布，記錄峰值波長(zhǎng)和光源光譜半寬。
儀器零點(diǎn)調(diào)整：待儀器預(yù)熱穩(wěn)定后，樣品倉(cāng)內(nèi)不放置任何樣品，以空氣作為參比，調(diào)節(jié)儀器的相位延遲零點(diǎn)并記錄示值。
相位延遲零點(diǎn)漂移：連續(xù)測(cè)量3分鐘，讀取相位延遲示值的最大漂移量，即為儀器的相位延遲零點(diǎn)漂移。
相位延遲示值誤差與重復(fù)性：根據(jù)儀器測(cè)量波長(zhǎng)，選用對(duì)應(yīng)光源條件下具有標(biāo)定量值的標(biāo)準(zhǔn)相位延遲片對(duì)儀器進(jìn)行相位延遲校準(zhǔn)。測(cè)量一組4片的標(biāo)準(zhǔn)相位延遲片，記錄示值誤差與重復(fù)性。