外觀檢查:在儀器校準(zhǔn)前,應(yīng)檢查儀器的外觀,確保沒(méi)有影響儀器校準(zhǔn)操作的缺陷。
光源光譜半寬:使用光譜分布測(cè)量設(shè)備測(cè)量偏光儀的光源光譜分布,記錄峰值波長(zhǎng)和光源光譜半寬。
儀器零點(diǎn)調(diào)整:待儀器預(yù)熱穩(wěn)定后,樣品倉(cāng)內(nèi)不放置任何樣品,以空氣作為參比,調(diào)節(jié)儀器的相位延遲零點(diǎn)并記錄示值。
相位延遲零點(diǎn)漂移:連續(xù)測(cè)量3分鐘,讀取相位延遲示值的最大漂移量,即為儀器的相位延遲零點(diǎn)漂移。
相位延遲示值誤差與重復(fù)性:根據(jù)儀器測(cè)量波長(zhǎng),選用對(duì)應(yīng)光源條件下具有標(biāo)定量值的標(biāo)準(zhǔn)相位延遲片對(duì)儀器進(jìn)行相位延遲校準(zhǔn)。測(cè)量一組4片的標(biāo)準(zhǔn)相位延遲片,記錄示值誤差與重復(fù)性。