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標(biāo)題: Zeta電位粒度分析儀工作原理 [打印本頁]

作者: sf3557 時(shí)間: 2024-12-27 16:51
標(biāo)題: Zeta電位粒度分析儀工作原理
Zeta電位粒度分析儀是一種廣泛應(yīng)用于物質(zhì)表征的技術(shù)，它主要用于研究分散系統(tǒng)中的顆粒大小、形狀和表面電荷等重要參數(shù)。其工作原理主要涉及激光散射技術(shù)和電泳技術(shù)。
一、激光散射技術(shù)
激光散射技術(shù)是Zeta電位粒度分析儀用于測量顆粒大小和形狀的基本原理。當(dāng)一束激光照射到物質(zhì)的表面時(shí)，顆粒會(huì)散射激光。根據(jù)散射光的強(qiáng)度和角度，可以計(jì)算出顆粒的大小。具體來說，顆粒越大，散射光的角度越小；顆粒越小，散射光的角度越大。同時(shí)，通過測量散射光的強(qiáng)度分布，還可以得到顆粒的形狀信息。
二、電泳技術(shù)
電泳技術(shù)是Zeta電位粒度分析儀用于測量顆粒表面電荷（即Zeta電位）的基本原理。在電場作用下，帶電顆粒會(huì)產(chǎn)生電泳運(yùn)動(dòng)，向相反電荷的電極移動(dòng)。通過測量顆粒在電場中的遷移速度，可以推算出顆粒的表面電荷性質(zhì)。具體來說，電泳遷移率與顆粒的電泳速度和電場強(qiáng)度成正比，與顆粒的直徑和介質(zhì)的粘度成反比。因此，通過測量電泳遷移率，可以間接得到顆粒的Zeta電位。
在實(shí)際操作中，Zeta電位粒度分析儀通常會(huì)將待測顆粒樣品與適量的流體混合，然后將混合物注入分析儀的測量室內(nèi)。測量室內(nèi)設(shè)有激光器和光敏探測器，激光器發(fā)出的激光束穿過測量室。當(dāng)顆粒通過激光束時(shí)，會(huì)散射出光信號(hào)，這些光信號(hào)被光敏探測器捕獲。通過分析捕獲的光信號(hào)，可以得到顆粒的大小和形狀信息。同時(shí)，通過測量顆粒在電場中的遷移速度，可以推算出顆粒的Zeta電位。
綜上所述，Zeta電位粒度分析儀的工作原理是基于激光散射技術(shù)和電泳技術(shù)的綜合運(yùn)用。通過這兩種技術(shù)的結(jié)合，可以實(shí)現(xiàn)對顆粒大小、形狀和表面電荷的全面測量和分析。這些信息對于理解分散系統(tǒng)中的顆粒行為、優(yōu)化顆粒制備工藝以及開發(fā)新型材料等方面都具有重要意義。

作者: 白日做夢 時(shí)間: 2025-1-9 17:59
謝謝你的見解，它對我很有幫助。

作者: 糯香檸檬茶 時(shí)間: 2025-1-14 20:49
感謝你的分享！

作者: 葡萄星光夢 時(shí)間: 2025-11-2 08:50
樓主的見解很獨(dú)到，值得學(xué)習(xí)。

作者: lelebang 時(shí)間: 4 天前
這個(gè)問題我也在思考，你的回答很全面。

作者: 生活一度 時(shí)間: 昨天 08:45
內(nèi)容專業(yè)，受益匪淺

作者: 比巴卜 時(shí)間: 昨天 17:38
受教了，實(shí)用性很強(qiáng)

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